x-R—質控圖是檢驗主管技師考試要求掌握的內容，醫(yī)學教育網搜集整理相關內容供大家參考。

　　此質控圖又稱均值—范圍質控圖，是Levey—Jennings最初引進的方法。這也是工業(yè)生產中常用的一種控制圖。

　　Levey――Jennings是用單份質控品作雙份測定，連續(xù)測定20次，共20對測定值。計算每對數值的均值（x）及極差（R），再計算總均數（x）及平均極差（R），然后繪制x及R兩個質控圖。前者以x為中心線，以x±1.88R為上、下控制界限；后者以R為中心線，以0為控制下限，R×3.27為控制上限。這種質控圖的優(yōu)點是可區(qū)分均值變異（x圖）及精密度變異（R圖）。表1為x-R質控圖繪制方法示例

　　步驟1.整理數據，列表

　　步驟2.計算

　　總均值（x）=（144+146+142+————————————————+146）/20=73.25

　　極差（R）=max{x}-min{x}

　　極差均值（R）=（4+2+2+————————————+2）/20=2.85

　　步驟3.確定控制界限

　　x控制圖

　　UCL（Upper contor limit）=x+A2R=73.25+1.88*2.85=78.10

　　LCL（Lower contor limit）=x-A2R=67.89

　　CL（Center limit）=x=73.25

　　R控制圖

　　UCL=D4R=3.27*2.85=9.32

　　LCL=D3R=0

　　Cl=R=2.85

　　（n為每批檢測時應用同濃度質控品的個數）

　　步驟4.根據一表1及步驟3提供的數據繪制質控圖（略）。