質控圖的基本原理介紹：

在檢測過程中，反映測定結果的數(shù)據(jù)分布有兩個規(guī)律：1.波動即重復某一檢測，測定結果總是上下波動的，即是說測定的數(shù)據(jù)是在平均值上、下波動的，這是由于測定過程中一些條件的變化引起的，而這些變化又難以予先知道的。波動的大小取決于檢測條件完善程度和對影響因素影響量的認識程度；2.分布即測定的數(shù)據(jù)都是按一定規(guī)律分布的，例如定量測定中，常呈正態(tài)分布，數(shù)據(jù)常在均值上、下分布，其離散的程度常用標準差來表示，因此均值及標準差就成為這一分布的兩個特征值，也成為繪制質控圖時兩個基本依據(jù)。

造成這種波動的原因有兩大類：1.偶然因素所引起。這一因素在正常情況下也存在，故又稱正常因素，其影響比較輕微且難以去除，其分布在定量測定中常呈正態(tài)分布；2.系統(tǒng)因素（又稱異常因素）所引起的。這一因素不是經(jīng)常存在的，對檢驗結果影響較大，其原因可以找到并去除，其分布不呈正態(tài)分布。由于偶然因素引起的波動呈正態(tài)分布，而異常因素引起的波動不呈正態(tài)分布。Shewhart就是根據(jù)這一特點將統(tǒng)計學原理引進質量管理中，通過測定數(shù)據(jù)的分布可從偶然因素引起的波動中發(fā)現(xiàn)異常因素引起的波動，達到過程控制的目的。所以質控圖實際上就是形狀和位置改變了的正態(tài)分布圖。

對檢驗質量產(chǎn)生影響的有兩類誤差：1.測定均值偏離了“真值”或理想值稱為系統(tǒng)誤差：2.檢測精度變差，也就是標準差變大，重復測定中重復性變差。造成的原因也是存在異常因素的緣故，但數(shù)據(jù)分布常呈正態(tài)分布，故常稱為隨機誤差。在統(tǒng)計學及誤差理論中，隨機誤差與偶然誤差是同義詞，但在此處要注意其區(qū)別。這里隨機誤差是指變大了的偶然誤差醫(yī)`學教育網(wǎng)搜集整理。

常見的數(shù)據(jù)分布有三個類型：正態(tài)分布、二項分布、普哇松（Poisson）分布。在臨床檢驗工作中定量分析屬正態(tài)分布，白細胞分類屬二項分布，細胞計數(shù)及細菌計數(shù)屬普哇松分布。相應三種分布，質控圖也有三個類型：用于正態(tài)分布時有x－S控制圖、x－R控制圖、x－R控制圖等；用于二項分布的有p控制圖、pn控制圖等；用于普哇松分布的有c控制圖、u控制圖等。

Shewhart質控圖對影響要素是全部控制的，即只要其中某一質量要素發(fā)生變化影響到質量時，它都能反映，故又稱全控圖；但影響質量的某一要素非檢測人員所能控制，檢測人員只能控制其所能控制的質量要素，這種非全控的控制圖稱選控圖，選控圖是我國學者張公緒教授提出的，己廣泛應用于工業(yè)、郵電、醫(yī)療衛(wèi)生部門，在臨床檢驗工作中也有著廣泛用途。

Shewhart質控圖及選控圖都是建立在統(tǒng)計學基礎上的，此外還有一種不用統(tǒng)計方法設計和繪制質控圖，它是根據(jù)質量標準合格與否繪制的質控圖叫予控圖。總之質控圖的類型和種類是比較多的，我們常用的Levey—Jennings質控圖只是其中一種。

Shewhart質控圖主要用于工業(yè)生產(chǎn)領域，工業(yè)生產(chǎn)和臨床實驗室相比，有許多不同。上面已提及一些，同時相對于工業(yè)生產(chǎn)產(chǎn)品的數(shù)量而言，每天檢測標本只是“小批量”的，因此臨床檢驗工作中通常用“小批量”產(chǎn)品的單值質控圖，即x－S質控圖，且是通過質控品的測定來進行質控的。

現(xiàn)在在臨床檢驗中有一種情況，即不論數(shù)據(jù)呈何種分布，都采用正態(tài)分布的質控圖，這是不正確的；另外定性分析并無必要一定要采取質控圖法進行質控。